粒度是粉體物料非常重要的特性之一，在粉碎工程的研究還有粉體產(chǎn)品的生產(chǎn)當中，常常會(huì )用到諸如物料的平均粒度、粒度組成還有粒度分布等數據。這些數據就是通過(guò)各種的粒度測定方法得到的。 (1) 篩分分析方法zui簡(jiǎn)單的也是應用zui早的粒度分析方法是篩分法。但是，由于現如今的標準篩(如泰勒標準篩)zui細的一般只到400目(相當于38μm)，因此，對于小于10μm的超細粉體來(lái)說(shuō)，不可能會(huì )用標準篩進(jìn)行粒度分析和檢測。雖然新發(fā)展的電沉積篩網(wǎng)也可以篩分小至5μm的粉體物料，但這種篩分技術(shù)由于篩分時(shí)間長(cháng)和經(jīng)常發(fā)生堵塞，很少在分析中使用。篩分分析就是利用篩孔大小不同的一套篩子進(jìn)行粒度分級。對于粒度小于100mm但是大于0.038mm的松散物料，一般會(huì )用篩分法來(lái)測定其粒度組成和粒度分布。篩分分析所采用的套篩一般有兩種：一種為非標準篩，實(shí)驗室是可以自己制造的，可以用于篩分粗粒物料。篩孔的大小一般為150、120、100、80、70、50、25、15、12、6、3、2、1mm等，根據需要確定。而另一種為標準套篩，可以用于篩分細粒物料，標準套篩就是由一套篩孔大小有一定比例的、篩孔寬度和篩絲直徑都是按標準制造的篩子組。上層篩子的篩孔大，下層篩子的篩孔小，另外還有一個(gè)上蓋(防止試樣在篩分的過(guò)程中損失)和篩底(用來(lái)直接接取zui低層篩子的篩下產(chǎn)物)。將標準篩按照篩孔由大到小，從上到下地排列起來(lái)，各個(gè)篩子所處的層位叫做篩序;在疊好的篩序中，每?jì)蓚€(gè)相鄰的篩孔尺寸之比叫做篩比。有些標準篩會(huì )有一個(gè)作為基準的篩子叫基篩，比如泰勒標準篩以200目篩子作為基篩。表1所列的幾種常見(jiàn)的標準篩。粒度范圍是6mm至0.038mm物料的篩分分析，常用的實(shí)驗室標準套篩進(jìn)行，可以用干法，也可以用濕法。如果對篩析的度要求不是特別嚴格，通常直接進(jìn)行干法篩析。但如果試樣含水、含泥較多，物料互相粘結時(shí)，應采用干濕聯(lián)合篩析法，篩析得到的結果才比較。(2) 其它粒度分析方法當今用于超細粉體粒度檢測的主要方法的沉降法(包括了重力沉降和離心沉降)、激光粒度分析儀、顯微鏡、庫爾特計數器還有用于測定比表面積的透過(guò)法和BET法。表2所列為這些方法的基本原理、測定范圍以及其主要特點(diǎn)。廈門(mén)易仕特精密儀器有限公司——一直以“發(fā)展與普及當代先進(jìn)的顆粒測試技術(shù)"為己任，研制的濕法、干法、醫用噴霧、工業(yè)噴霧等系列的激光粒度測試設備，均代表了國內同行業(yè)的水平。歡迎廣大用戶(hù)前來(lái)洽談。