粒度分析儀是根據光的散射原理測量粉顆粒大小的一種比較通用的粒度儀。測量動(dòng)態(tài)范圍寬、測量速度快、操作方便，非常適合測量粒度分布范圍寬的粉體和液體霧滴。很多粒度分析儀集成了激光技術(shù)、現代光電技術(shù)、電子技術(shù)、精密機械和計算機技術(shù)，具有多種優(yōu)點(diǎn)，現已成為全世界zui流行的粒度分析儀。作為一種新型的粒度測試儀器，粒度分析儀已經(jīng)在其它粉體加工與應用領(lǐng)域得到廣泛的應用。它的應用對提高產(chǎn)品質(zhì)量、降低能源消耗有著(zhù)重要的意義。
粒度分析儀是當前應用很廣泛的一類(lèi)儀器之一，因此在使用過(guò)程中應該注意一些事項：*，測量單元預熱；在*次開(kāi)機，或關(guān)機超過(guò)半小時(shí)再重復開(kāi)機時(shí)需要預熱。第二，系統對中；系統對中就是把激光束的中心與環(huán)形光電探測器的中心調成一致。第三，系統參數設置；在主菜單下，用鼠標左鍵單擊文件，屏幕上彈出文件子菜單。再用鼠標左鍵單擊重新開(kāi)始，屏幕繼續彈出系統參數設置欄。在該欄上輸入：超聲時(shí)間、測試人等項內容。第四，樣品準備；樣品準備是指從待測的粉體材料中有代表性地取出適當的數據作測量樣品，選取適當的懸浮液和分散劑，將樣品與懸浮液混合，并讓樣品顆粒在懸浮液中充分分散，而又不與懸浮液和分散劑發(fā)生化學(xué)反應的過(guò)程。粒度分析儀在測量中應該注意哪些呢：不同粒度分析儀技術(shù)的局限性：不同粒度分析技術(shù)都受其測量原理限制.如光衍射法不能測量小于光源自然線(xiàn)寬的顆粒;沉降法則既受制于大尺寸端亂流的影響，又受小尺寸端擴散（布朗運動(dòng)）的限制。一些測量?jì)x器也會(huì )因制作和操作規程帶來(lái)一定限制。有時(shí)測量技術(shù)還對測量樣品的準備提出限制，PCS測量必須使顆粒懸浮，電鏡制樣要求優(yōu)良分散。因此，了解測量技術(shù)的局限性和嚴格滿(mǎn)足其限制要求.對獲取正確測量結果非常必要。
測量基準：不同粒度分析儀技術(shù)的原理不同，原信息源和計量目標不同。例如光衍射法的原信息源是散射光強度，要求防止細顆粒中少數大顆粒對信息源的支配.電敏技術(shù)則按顆體積計數，因此各方法的基準不同，彼此不能簡(jiǎn)單歸一同比。所以必須強調數據轉化因基準不同會(huì )帶來(lái)明顯的誤差。
分離顆粒的能力與粒度測試技術(shù)選擇：依據對顆粒的分離能力.可將測量顆粒的技術(shù)分為單顆粒計數、顆粒分級和整體平均結果三類(lèi)。圖像分析、顯微鏡是典型的單顆粒技術(shù)方法；分級方法包括篩分、沉降、離心和顆粒色譜等；整體平均的粒度分析方法，從收集到的所有測量顆粒產(chǎn)生信號的總和計算粒度分析，即測量結果由解析得到，是被測顆粒整體的平均，因此易于實(shí)現自動(dòng)化和在線(xiàn)分析，但分辨率較低。用于催化劑工業(yè)生產(chǎn)的顆粒分析儀選擇整體平均的方法，實(shí)驗室研究多數情況希望獲得單顆粒技術(shù)與外貌信息，分級方法的選擇，應當結合測量顆粒性質(zhì)與測量方式考慮。
粒度分析儀的信息與技術(shù)指標要求：粒度分析儀的信息要求.是指給出結果的表達方式.可以是平均粒徑、累加頻率值、正態(tài)分布、分布寬度.也可用對數正態(tài)分布、非對稱(chēng)分布寬度、多峰分布的各峰相對量，以及累加頻率的不同名義（如顆粒數、體積、面積等）表達。催化劑粒度分析zui有用的信息是平均粒徑和粒徑的顆粒數分布。